113年:放射診斷(2)

有關磁振造影中的化學位移假影(chemical shift artifact),下列敘述何者正確?

A化學位移只出現在相位編碼的方向上
B由於不同分子中質子旋進頻率的不同,而產生化學位移
C降低採樣頻寬可以改善化學位移
D化學位移由梯度磁場決定,和B0磁場強度無關

詳細解析

本題觀念:

本題測試的是磁振造影(MRI)中常見的**化學位移假影(Chemical shift artifact)**之物理原理與相關參數設定。化學位移的根本原因在於人體內不同分子(最主要為水和脂肪)中的氫質子,受到其周圍電子雲遮蔽效應(electron shielding)的影響不同,導致其感受到的實際局部磁場有微小差異,進而產生不同的拉莫旋進頻率(Larmor frequency)。水和脂肪的旋進頻率差異約為 3.5 ppm。

選項分析

  • A. 化學位移只出現在相位編碼的方向上 錯誤。在常規的自旋回訊(Spin Echo, SE)或梯度回訊(Gradient Echo, GRE)脈衝序列中,第一型化學位移假影(空間錯位)主要是出現在頻率編碼(Frequency-encoding)方向。只有在回訊平面造影(Echo Planar Imaging, EPI)序列中,因為相位編碼方向的每個像素頻寬極低,化學位移假影才會主要出現在相位編碼方向。因此「只出現」在相位編碼方向的敘述是不正確的。

  • B. 由於不同分子中質子旋進頻率的不同,而產生化學位移 正確。水分子與脂肪分子中的氫質子因為外圍電子雲的磁遮蔽效應不同,導致在相同主磁場下具備不同的旋進頻率。這項頻率差異(約 3.5 ppm)在利用頻率來作空間定位的頻率編碼

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