有關磁振造影SPGR（spoiled gradient recalled）脈衝序列中，破壞穩定態的橫向磁分量的方法，下列何者錯誤？

本題觀念：

本題考查磁振造影（MRI）中 Spoiled Gradient Recalled Echo (SPGR) 脈衝序列的核心物理機制。

在梯度回波（Gradient Echo, GRE）序列中，若重複時間（TR）短於組織的 T2 弛豫時間，在下一個 TR 的激發射頻脈衝（RF pulse）來臨前，組織仍會殘留「穩定態的橫向磁分量（steady-state transverse magnetization）」。這些殘留的橫向磁化向量會混入下一個週期的訊號中，產生 T2* 權重。為了獲得純粹的 T1 或質子密度（PD）權重影像，必須將這些殘留的橫向磁分量消除（Spoiling），這類序列即稱為 Spoiled GRE（如 GE 系統的 SPGR、Siemens 的 FLASH 等）。

消除橫向磁分量的常用方法有三種：RF spoiling（射頻擾相）、Gradient spoiling（梯度擾相）以及 Long TR spoiling（長 TR 自然衰減）。

選項分析：

• (A) 外加一個射頻（RF）：在此選項的語境中，指的是 RF spoiling（射頻擾相 / 射頻破壞）。其原理是透過有系統地改變每次激發射頻脈衝（RF pulse）的相位（通常呈二次方增加），使每次產生殘留橫向磁化向量的相位皆不相同，從而在多個週期疊加下互相抵

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