最適合量測光子能譜的固態偵檢器是：

本題觀念：

光子（X射線與加馬射線）的能譜量測（photon energy spectroscopy）需要偵檢器具備良好的「能量解析度（energy resolution）」以及足夠的「偵測效率（detection efficiency）」。在固態偵檢器（半導體偵檢器）中，材質的原子序（Z）決定了光電效應的作用機率（約與 $Z^4$ 到 $Z^5$ 成正比）。因此，相對於矽（Si，原子序 14），鍺（Ge，原子序 32）對光子具有更高的吸收效率，是目前公認最適合用於精確量測光子能譜的固態偵檢器材質。

選項分析

(A) diffused junction detectors（擴散接面偵檢器）：通常以矽（Si）製成。其製程是在 p 型或 n 型半導體表面高溫擴散不同型態的雜質以形成 p-n 接面。這類偵檢器表面會有一層較厚的無感層（dead layer），且因為矽的原子序較低，對光子的作用機率小，主要用於偵測「帶電粒子（如阿伐粒子、貝他粒子）」，不適合用於光子能譜量測。

(B) surface barrier detectors（表面障壁偵檢器）：亦多以矽製成（Silicon Surface Barrier, SSB）。利用在 n 型矽晶體表面蒸鍍極薄的金或鋁來形成蕭特基障壁（Schottky barrier）。其優點是無感層極薄，非常適合用來量測射

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