下列何者可以用來更改 CT 掃描儀上的 X 射線束品質（以毫米單位鋁半值層的厚度表示）？

本題觀念：

本題測驗的核心概念為 X 射線束品質（X-ray beam quality） 以及 半值層（Half Value Layer, HVL） 的物理意義。 射束品質代表 X 射線穿透物質的能力（即射束的硬度或平均能量）。在診斷放射線學及 CT 中，射束品質通常以半值層（HVL）來表示，其定義為使 X 射線束強度衰減至原來一半所需的特定吸收物質厚度（通常以毫米鋁，mm Al 表示），且管電壓（kVp）與 HVL 常被共同用作射束品質的可靠指標。影響射束品質的主要實體參數為管電壓（kV）與附加濾波（Filtration）。

選項分析

• (A) mA（毫安培）：代表 X 光管的管電流（Tube current）。改變 mA 只會影響陰極產生的電子數量，進而改變 X 射線的光子總數（射束強度或數量，Beam quantity），但不會改變單一光子的能量分布或平均能量。因此，mA 無法改變射束品質，也不會影響 HVL。
• (B) kV（千伏特）：代表 X 光管的管電壓（Tube voltage）。提高 kV 會增加電子撞擊陽極靶的最大動能，進而提高 X 射線制動輻射能譜（Bremsstrahlung spectrum）的最高能量與平均能量。平均能量增加會使 X 射線的穿透力變強（射束變硬），因此需要更厚的鋁板才能將

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