X 光機次防護屏蔽包括滲漏輻射和散射輻射的屏蔽，下列關於散射輻射的敘述那些正確？①散射的量取決於入射散射體的主射束強度 ②入射射束的能量會影響散射量的多寡 ③散射輻射的產生主要是主射束與物體產生光電效應所造成

本題觀念：

本題探討 X 光室輻射防護設計中的「次防護屏蔽（Secondary protective barrier）」以及「散射輻射（Scattered radiation）」的物理特性。X 光室的防護屏蔽分為主屏蔽與次屏蔽，其中次屏蔽的主要功用是阻擋由 X 光管外殼溢出的「滲漏輻射」以及主射束打在物體（通常是病患）上所產生的「散射輻射」。了解游離輻射與物質的作用機制，是醫事放射師計算防護屏蔽厚度及執行輻射防護的基礎。

選項分析

• ① 散射的量取決於入射散射體的主射束強度：正確。散射輻射的強度與入射主射束的強度（即光子數量，臨床上受 mAs 控制）成正比。當入射到散射體（如病患）的 X 光總量增加時，發生散射作用的光子總數當然也會隨之增加。
• ② 入射射束的能量會影響散射量的多寡：正確。X 光的能量（臨床上由管電壓 kVp 決定）會直接影響光子與物質交互作用的機率與型態。當入射能量增加時，發生康普頓散射（Compton scattering）相較於光電效應的相對機率會上升；且高能射束產生的散射光子具有較高的能量與穿透力，進而影響空間中散射輻射的量與角度分布。
• ③ 散射輻射的產生主要是主射束與物體產生光電效應所造成：錯誤。在診斷用 X 光能量範圍內，造成「散射輻射」的最主要物理機制為康普頓效應（Compton effect）

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