下列何種固態偵檢器最適合量測阿伐粒子能譜？

本題觀念：

本題測驗的核心觀念為「阿伐粒子（Alpha particles）的輻射偵檢與能譜分析（Alpha Spectroscopy）」。阿伐粒子為重帶電粒子，具有極高的直線轉移能量（Linear Energy Transfer, LET），其在固體物質中的穿透力極低，射程極短。因此，在量測其能譜時，偵檢器的「入射窗（entrance window）」或「表面死層（dead layer）」必須極薄，才能避免阿伐粒子在進入靈敏區前就損失過多能量，進而影響能譜的能量鑑別率（energy resolution）。

選項分析

(A) diffused junction detectors（擴散接面偵檢器）： 不適合。擴散接面偵檢器雖然也是半導體固態偵檢器的一種，但其傳統製程（例如將磷擴散至 p 型矽中）會導致偵檢器表面的死層（dead layer）相對較厚。當穿透力弱的阿伐粒子穿過此較厚的死層時，會產生嚴重的能量耗損與射程散佈（straggling），導致能譜的能量峰值變寬、能量鑑別率大幅下降，因此並非量測阿伐粒子能譜的最佳選擇。

(B) surface barrier detectors（表面位障偵檢器）： 最為適合。表面位障偵檢器（Silicon Surface Barrier, SSB detectors）具備極薄的表面死層（通常相當於數十奈米的

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