一條件設定為 75 kVp 、 100 mAs 的Ｘ光機，在 SID 為 180 cm 的地方測得曝露為 500 mR ，若在同一操作條件下，降低曝露至 125 mR ，則應增加鋁濾器的厚度為何？（已知鋁的半值層厚度為 2.8 mm ）

本題觀念：

本題主要測驗游離輻射防護與 X 光射束品質（Beam Quality）中的**半值層（Half-Value Layer, HVL）**概念。半值層的定義為：當特定能量的 X 光射束穿透某種物質時，使其輻射強度（或曝露量）衰減至原來一半所需的該物質厚度。在診斷用 X 光機中，通常以鋁（Aluminum, Al）的厚度來表示半值層（mm Al），是評估 X 光穿透力與射束品質的重要指標。

選項分析

已知 X 光機初始曝露量為 500 mR，鋁的半值層（HVL）厚度為 2.8 mm。 輻射強度衰減公式為：$I = I_0 \times (1/2)^n$，其中 $n$ 為半值層的個數（$n = \text{增加厚度} / \text{HVL}$）。 題目要求將曝露量降至 125 mR，可計算出需要的衰減比例： $125 \text{ mR} / 500 \text{ mR} = 1/4 = (1/2)^2$ 這表示需要經過 2 個半值層的衰減。

• (A) 2.8 mm：相當於增加 1 個 HVL ($2.8 / 2.8 = 1$)。曝露量將衰減至原來的 $1/2$，即 $500 \times (1/2) = 250 \text{ mR}$。故此選項錯誤。
• (B) 5.6 mm：相當於增加 2 個 HVL ($5.6 / 2.8 = 2$

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