下列輻射偵檢器，何者不使用時可置放於室溫環境，但操作時則須液態氮冷卻方能正常工作？

本題觀念：

半導體輻射偵檢器依材料和製造工藝不同，對冷卻需求有所差異。本題考查各種鍺/矽系半導體偵檢器在儲存與操作時的冷卻需求，尤其是哪種偵檢器「不用時可回室溫、但操作時必須液態氮冷卻」。

選項分析

(A) Si(Li)（矽-鋰漂移型偵檢器） Si(Li) 偵檢器以鋰離子漂移（lithium drifting）補償矽晶體中的雜質，製造出 p-i-n 結構。與 Ge(Li) 相似，Si(Li) 的鋰補償在室溫下會因鋰離子熱擴散而逐漸消散，導致偵檢器損壞。因此，Si(Li) 不使用時也必須保持低溫（通常需持續液態氮冷卻），不符合「不使用時可置室溫」的條件。

(B) Ge(Li)（鍺-鋰漂移型偵檢器） Ge(Li) 是早期高解析度 γ 能譜儀的主力偵檢器，同樣以鋰離子漂移補償製成。其鋰補償極不穩定，只要回到室溫，鋰即快速重新分布（precipitation），永久毀損偵檢器。因此，Ge(Li) 必須全程維持液態氮溫度（77 K），即使不使用也不例外。不符合題目描述。

(C) CdTe（碲化鎘偵檢器） CdTe 具有較大的能隙（$E_g \approx 1.44$ eV），熱激發雜訊低，可在室溫下正常操作，完全不需液態氮冷卻。不符合「操作時須液態氮冷卻」的條件。

**(D) HPGe（高純度鍺

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