下列何者不會造成原子發散光譜測定法（ atomic emission spectrophotometry, AES ）分析之干擾？

本題觀念：

本題主要測驗考生對於原子發散光譜法（Atomic Emission Spectrophotometry, AES）（包含火焰光度計）中各類**干擾因素（Interferences）**的理解。AES 的準確度常受樣品基質與操作條件影響，常見的干擾包括：光譜干擾、化學干擾、物理干擾與離子化干擾。考生需能分辨哪些是來自樣品或環境的干擾源，哪些則是儀器的正常組件。

選項分析

• A. 高溫下離子化（Ionization Interference）：會造成干擾

  • 原理：在極高溫的火焰或電漿（如 ICP）中，部分中性原子會吸收過多能量而失去電子，變成離子（Ion）（$M \rightarrow M^+ + e^-$）。
  • 影響：AES 主要測定的是中性原子的發射光譜（或是特定離子線），若原子過度離子化，會導致基態原子數目減少，使得特定波長的發射訊號強度降低或改變，造成誤差。這被稱為「離子化干擾」。
  • 解決：常加入「離子化抑制劑」（ionization suppressor），如鉀（K）或銫（Cs），這些易離子化的元素會產生大量電子，抑制待測物的離子化平衡。

• B. 樣品的黏度（Physical Interference）：會造成干擾 *

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